نتایج جستجو برای "قابلیت اطمینان میکروالکترونیکی"
ترجمه مقاله انگلیسی: قابلیت اطمینان میکروالکترونیکی-الگوریتم های موازی برای پیدا کردن نمونه های بزرگ
عنوان انگلیسی : Parallel algorithm for finding modules of large-scale coherent fault trees سال چاپ : 2015 تعداد صفحه : 4 دانلود رایگان اصل مقاله انگلیسی عنوان فارسی : قابلیت اطمینان میکروالکترونیکی-الگوریتم های موازی برای پیدا کردن نمونه های بزرگ درختان خطای منسجم چکیده : The computation of the
قیمت : 20,000 تومان
گارانتی بازگشت وجه
کد تخفیف خرید
نماد اعتماد الکترونیکی