نتایج جستجو برای "قابلیت اطمینان میکروالکترونیکی"

ترجمه مقاله انگلیسی: قابلیت اطمینان میکروالکترونیکی-الگوریتم های موازی برای پیدا کردن نمونه های بزرگ

عنوان انگلیسی : Parallel algorithm for finding modules of large-scale coherent fault trees سال چاپ : 2015 تعداد صفحه : 4 دانلود رایگان اصل مقاله انگلیسی عنوان فارسی : قابلیت اطمینان میکروالکترونیکی-الگوریتم های موازی برای پیدا کردن نمونه های بزرگ درختان خطای منسجم چکیده : The computation of the

قیمت : 20,000 تومان

توضیحات بیشتر دریافت فایل